Zref giver dig mulighed for at udføre to typer af beregninger fra single-krystal diffraktion målinger for at bestemme enhed-celle parametre. Hvis du har centreret refleksioner i 8 positioner på Diffractometer med zref kommando i det indre software er de endelige omega profiler gemt i en RFL fil. Refleksionen profiler gemt i denne fil kan derefter blive undersøgt af WinIntegrStp programmet, ombygget automatisk, og de ideelle toppositioner og celle parametre kan bestemmes. Hvis du har problemer med peak former, vil automatiseret proces mislykkes. Hvis dette sker, kan du passer og integrere toppene i hånden i WinIntegrStp og gemme de monterede positioner i et integreret data eller int-fil. Læs derefter int filen i dette program, hvor du kan bestemme de korrigerede toppositioner ved 8-stillingen metoden, og forfine de unit-celle parametre. Programmet vil også læse mat filer genereret af Single, så du kan udføre mindste kvadraters på peak listen uden at starte Single.
Kommentarer ikke fundet