Image SXM er en version af billedanalysesoftwaren NIH Image, der er udvidet til at håndtere læsning, visning og analyse af scanningsmikroskopebilleder. Image SXM understøtter SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM og STM billeder fra følgende systemer: Asylforskning, Burleigh Instruments, Digitale Instrumenter NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf EasyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instrumenter TOPSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Teknologi SPM-32, RHK Teknologi XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vakuum Generatorer SAM, Veeco Innova, WA Teknologi, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.
Hvad er nyt i denne udgave:
- Begrænsning af investeringsafkast til power-of-2 størrelser for at tillade FFT-operationer fungerer nu ved at trykke på tasten
- Ændringer i 'Bacterial MicroCompartments' analyse
Hvad er nyt i version 197:
- Begrænsning af investeringsafkast til power-of-2 størrelser for at tillade FFT-operationer fungerer nu ved at trykke på tasten
- Ændringer i 'Bacterial MicroCompartments' analyse
Kommentarer ikke fundet